Random pattern testability: J. Savir, G. Ditlow and P.H. Bardell: Rep. RC 9643, IBM T.J. Watson Research Center, Yorktown Heights, New York 10598, U.S.A., (October 1982)
作者：
Highlights：
•
摘要
论文关键词：
论文评审过程：Available online 19 May 2003.
论文官网地址：https://doi.org/10.1016/0167-9236(85)90111-3
