期刊全称
Microelectronics Reliability
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Print ISSN
0026-2714
出版社
Elsevier
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开放出版
Open Access
否
出版类型
期刊 - Journal
SNIP
0.981
SJR
0.445
Q2
261 / 693
52 / 165
105 / 246
42 / 123
78 / 192
164 / 411